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材料分析与表征 材料分析设备

HITACHI S-3400N显微织构与晶界特征分析(EBSD)

湖南某大学

提交检测需求
科研仪器检测能力 HITACHI S-3400N显微织构与晶界特征分析(EBSD)

设备信息

仪器名称
HITACHI S-3400N
所在地区
湖南省
服务方式
设备共享
所属机构
湖南某大学
联系人及联系电话由科仪有维平台内部核验,不在页面直接公开。

01检测项目

反极图(IPF)、极图(PF)及特殊晶界分析

02样品要求

①直径≤25mm,
高度≤10mm
②无磁性、无辐射、无污染
③EBSD样品表面需精细抛光(如机械抛光、电解抛光),以去除应力层和污染层

信息说明

本页面用于展示科研仪器及相关检测能力。具体可检测项目、样品条件、开放安排及费用,由科仪有维协助需求方与资源提供单位进一步确认。