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Tecnai G2 F20 X-TWIN微区晶体结构与物相鉴定 (SAED/CBED)

湖南某大学

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科研仪器检测能力 Tecnai G2 F20 X-TWIN微区晶体结构与物相鉴定 (SAED/CBED)

设备信息

仪器名称
Tecnai G2 F20 X-TWIN
所在地区
湖南省
服务方式
设备共享
所属机构
湖南某大学
联系人及联系电话由科仪有维平台内部核验,不在页面直接公开。

01检测项目

通过选区/会聚束电子衍射,实现纳米级微区的物相快速标定与对称性分析。

02样品要求

①直径3mm的薄片,
厚度一般<100nm,
高分辨需<50nm
②无磁性
③无污染、无残留、无水分及易挥发物
④在高真空和电子束轰击下不分解、不挥发、不熔化
⑤导电/导热良好
⑥生物/有机样品需特殊处理

信息说明

本页面用于展示科研仪器及相关检测能力。具体可检测项目、样品条件、开放安排及费用,由科仪有维协助需求方与资源提供单位进一步确认。