01检测项目
支持特定示踪实验及核材料研究中的同位素丰度精准测定。
02样品要求
①针尖直径≤100 nm；锥角宜< 5° 样品高度2~8mm；
②数量：2-3根备用，易断样品适当增加。
②导电性良好；不导电喷金或喷碳。
③制样方法：
导电金属：电解抛光（先制成0.5×0.5×10 mm³丝/棒状，在酸液中抛光至尖端<100 nm）。
不导电/薄膜/需定位样品：FIB加工（Pt/W/C焊接后环形切割）。
②数量：2-3根备用，易断样品适当增加。
②导电性良好；不导电喷金或喷碳。
③制样方法：
导电金属：电解抛光（先制成0.5×0.5×10 mm³丝/棒状，在酸液中抛光至尖端<100 nm）。
不导电/薄膜/需定位样品：FIB加工（Pt/W/C焊接后环形切割）。
信息说明
本页面用于展示科研仪器及相关检测能力。具体可检测项目、样品条件、开放安排及费用，由科仪有维协助需求方与资源提供单位进一步确认。