01检测项目
TEM通常配备EDX探测器，通过检测电子与样品相互作用产生的X射线，获取样品的元素组成信息，进行定性或半定量的分析。
02样品要求
主要技术指标参数： 分辨率：0.2nm，加速电压是20-120万伏，最大放大倍率可以到达60万倍，最大倾斜角正负70度，配备高衬度透镜，实现大视野，高对比度观察。
信息说明
本页面用于展示科研仪器及相关检测能力。具体可检测项目、样品条件、开放安排及费用，由科仪有维协助需求方与资源提供单位进一步确认。